WEKO3
アイテム
システム故障診断に関する研究(1)内部テスト端子数の下限および最少内部テスト端子の決定アルゴリズム
http://hdl.handle.net/10098/4652
http://hdl.handle.net/10098/4652f93ce133-79fb-4469-8938-13904c109a64
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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AN00215401-022-01-018.pdf (2.3 MB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||||||||
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| 公開日 | 2011-12-14 | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | システム故障診断に関する研究(1)内部テスト端子数の下限および最少内部テスト端子の決定アルゴリズム | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | STUDIES ON THE SYSTEM DIAGNOSIS Part 1 The Greatest Lower Bounds on the Numher of the Internal Test-Terminals and the AIgorithm of Determination for the Minimum Internal Test-Terminals in System Diagnosis | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||||||
| 著者 |
松本, 忠
× 松本, 忠
× 飛田, 義孝
× MATSUMOTO, Tadashi
× TOBITA, Yoshitaka
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| 書誌情報 |
福井大学工学部研究報告 巻 22, 号 1, p. 135-166, 発行日 1974-03 |
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| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 4298373 | |||||||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||||||
| 識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
| 関連識別子 | TD00003892 | |||||||||||||
